<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>Isı on High-Quality Quartz Emitters</title>
		<link>http://quartz-emitter.com/tr/tags/is%C4%B1/</link>
		<description>Recent content in Isı on High-Quality Quartz Emitters</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>tr</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Sun, 21 Jun 2026 06:41:49 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://quartz-emitter.com/tr/tags/is%C4%B1/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>Wafer IR için yüksek hassasiyetli ısıtma</title>
				<link>http://quartz-emitter.com/tr/posts/high-precision-heat-for-wafer-ir/</link>
				<pubDate>Sun, 21 Jun 2026 06:41:49 +0800</pubDate>
				<guid>http://quartz-emitter.com/tr/posts/high-precision-heat-for-wafer-ir/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://quartz-emitter.com/images/1764273a9805a56244015746cb190d47.png&#34; alt=&#34;Wafer IR için yüksek hassasiyetli ısıtma&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;Üretim alanında, fotoğraf direncinin ısıtılması sadece hafif bir ısınma işlemi değildir; bu işlem, her bir wafer için verimi belirleyen ö&lt;a href=&#34;https://o-yate.net&#34;&gt;nemli&lt;/a&gt; bir faktördür. Yumuşak veya sert ısıtma işlemlerinde meydana gelen 1°C’lik değişiklikler, CD değerlerini etkiler, yüzeyde lekelere neden olur ve parçacık sayısını olumsuz yönde değiştirir. Bu tür değişkenlikleri ortadan kaldırmak için waferlerimizi ısıtmak için özel bir IR ısıtma sistemi kullanıyoruz.&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;İşte asıl önemli olan noktalar:&#xA;Kuarz emisyon penceresi kullanarak kısa dalga boyundaki IR ışığı kullanıyoruz. Kapalı döngülü termometri sayesinde waferlerin sıcaklığı ±0,1°C aralığında sabit kalır. Sıcaklık 3 &lt;a href=&#34;https://goldisgood.com&#34;&gt;saniye&lt;/a&gt; içinde istenen seviyeye ulaşır; böylece yüksek hızlı litografi işlemlerinde bekleme süreleri olmadan işlem yapılabilir. Kontrol hassasiyeti 0,1°C’dür ve çok noktalı kalibrasyon sayesinde waferlerin özellikleri doğru şekilde ölçülebilir.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
